Description
L'ensemble XF1 se compose de quatre sondes de champ magnétique et d'une sonde de champ électromagnétique pour mesurer les champs électromagnétiques et les champs magnétiques de 30 MHz à 6 GHz sur les assemblages électroniques pendant la phase de développement. En raison de leur adaptation d'impédance intégrée, les sondes sont moins sensibles dans la gamme des basses fréquences que les sondes de type RF. Les têtes de sonde de l'ensemble XF1 permettent de localiser pas à pas les sources d'interférence des champs magnétiques sur les assemblages. La sonde XF-R 400-1 est d'abord utilisée pour détecter les interférences électromagnétiques à plus grande distance. Ensuite, les sondes à plus haute résolution peuvent être utilisées pour détecter plus précisément les sources d'interférence. La sonde de champ électrique est utilisée pour détecter les champs d'interférences électriques à proximité des assemblages. L'utilisation des sondes de champ proche permet de détecter l'orientation et la distribution des champs. Les sondes de champ proche sont petites et maniables. Elles sont dotées d'une gaine d'atténuation du courant et sont donc blindées électriquement. Elles peuvent être connectées à un analyseur de spectre ou à un oscilloscope avec une entrée de 50 Ω. Ils disposent d'une résistance de terminaison interne.
Caractéristiques techniques :
| Frequency range |
30 MHz ... 6 GHz |
| Connector |
SMA, male, jack |
| Weight |
400 g |
| Sizes (L x W x H) |
(24 x 19.5 x 6) cm |
Livré avec :
- 1x XF-R 400-1, sonde de champs H 30 MHz à 6 GHz
- 1x XF-R 3-1, sonde de champs H 30 MHz à 6 GHz
- 1x XF-B 3-1, sonde de champs H 30 MHz à 6 GHz
- 1x XF-E 10, sonde de champs E 30 MHz jusqu'à 6 GHz
- 1x XF-U 2.5-1, sonde de champs H 30 MHz à 6 GHz
- 1x SMA-SMA 1 m, câble de mesure SMA-SMA
- 1x XF 1 qg, Guide rapide de l'ensemble XF1
- 1xCase 5, Mallette du système Sondes de champs proche
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