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Système de test à effet hall : DX-50 Agrandir l'image

Système de test à effet hall : DX-50 | DEXING MAGNET

Découvrez le système de test à effet hall DX-50 qui est constitué de multiples composants tels que : un électro-aimant, une alimentation de haute précision pour électro-aimant, etc. 

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Description

Ce système de test à effet hall DX-50 est constitué d'un électro-aimant, une alimentation de haute précision pour électro-aimant, une source de courant constante à haute précision, un module de mesure de tension de courant, un gaussmètre, des câbles de connexion, un porte-échantillon et un logiciel. 

Il inclut une source de courant constant DX-320 spécifique, 6 semi-microvoltmètres, un système complet de relais de commutation pour mesure effet Hall, ce qui permet de vraiment faciliter les connexions pendant les mesures. 

Ce système de test à effet hall DX-50 peut être utilisé pour mesurer la concentration, la mobilité, la résistivité, l’effet Hall et d’autres paramètres importants des matériaux semi-conducteurs.

Caractéristiques techniques : 

  • Intensité du champs magnétique : 
    • Air gap: 10mm, reach 10700Gs
    • Air gap: 20mm, reach 7000 Gs
  • Courant d'échantillonnage : 50 nA ~ 50 mA(le courant minimum réglable : 0,1 nA)
  • Tension de mesure : 0,1 uV ~ 30 V
  • Offre une variété de matériaux d'essai standard
  • Résolution minimale du champ magnétique : 1 Gs, gamme d'intensité du champ magnétique : 0-±1 T
  • Coopère avec un gaussmètre ou un panneau numérique coloré pour communiquer avec un ordinateur Courbe I-V et test de courbe I-R

Matériaux testables avec ce système : 

  • Matériaux semi-conducteur : SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe and ferrite materials etc.
  • Matériaux à faible impedance : metal, transparent oxide, weak magnetic semiconductor materials,TMR material, ect.
  • Matériaux à haute impédance : Semi-insulating GaAs, GaN, CdTe, etc.

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