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Note d'application : Comment améliorer la caractérisation des réponses spectrales de vos composants optiques passifs ?

Posté le: 30/10/23 | Catégories: Ressources, TESTS & MESURES

Effectuez des mesures spectrales avec une haute résolution intégrée avec la plateforme CTP10.

Note d'application : Comment améliorer la caractérisation des réponses spectrales de vos composants optiques passifs ?

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Découvrez dans cette note d'application comment effectuer des mesures spectrales avec une résolution de longueur d'onde sub-picométrique à l'aide de la fonctionnalité haute résolution intégrée, de la plateforme CTP10.

Le CTP10 est un système de détection multiports modulaires haute performance pour le test de composants optiques passifs qui fonctionne avec la série de lasers accordables à balayage continu d'EXFO.

Parmi la sélection de module de la plateforme CTP10, certains vous permettront d'effectuer une caractérisation complète : perte d'insertion par balayage (IL), perte dépendante de la polarisation (PDL) et perte de retour (RL) avec une excellente résolution de longueur d'onde jusqu'à 20 fm (femtomètres). Cela vous assurera une résolution optimale de vos mesures.

Une résolution spectrale de 1 pm (picomètre) est actuellement le standard pour la plupart des besoins en R&D et en fabrication. Avec le CTP10 d'EXFO vous pourrez atteindre une résolution 50x meilleure soit 20 fm très utile pour les applications de type circuits intégrés photoniques (PIC), Ring Resonators, les interférométres à longueur d'onde de balayage (SWI), détections homodynes de sources laser et les réflectométres dans le domaine des fréquences optiques (OFDR).

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