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Sonde de champ magnétique à double impulsion pour les applications d'injection de fautes
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Testez la robustesse de vos composants sécurisés !
Sécurité des circuits intégrés, tests de robustesse, injection de fautes précises : les enjeux liés à la sécurité matérielle ne cessent de croître. Pour répondre à ces défis, Langer EMV-Technik dévoile une solution de pointe : les sets ICI-DP, spécialement conçus pour repousser les limites de l’injection de fautes électromagnétiques (EMFI).
Les nouveaux ICI-DP Sets introduisent la possibilité de générer deux impulsions successives (Double Pulse), permettant une perturbation plus puissante et plus ciblée. Cette évolution est idéale pour les attaques sur circuits cryptographiques, notamment dans les environnements de test et d’analyse de vulnérabilités.
Grâce à cette double impulsion, les ingénieurs peuvent explorer de nouvelles failles, affiner leurs scénarios de test et augmenter la probabilité de réussite de l’injection.
Les sondes ICI et ICI-DP permettent d’injecter :
Ces sondes sont destinées à deux types de tests :
Les ICI-DP Sets sont livrés avec quatre embouts interchangeables de différents diamètres : 1000 µm ; 500 µm ; 250 µm ; 150 µm
Chaque dimension a été pensée pour s’adapter aux contraintes des environnements de test :
Cette variété permet une grande souplesse d’utilisation, tout en assurant une résolution spatiale optimale, indispensable pour cibler précisément des zones critiques du silicium.
Pourquoi choisir les ICI-DP Sets pour vos campagnes EMFI ?
Vous souhaitez en savoir plus sur les performances, les cas d’usage et les spécificités techniques des ICI-DP Sets ?
Téléchargez dès maintenant la documentation technique complète pour découvrir cette nouvelle solution en détail.
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