Participez aux J2M : Le rendez-vous incontournable des experts de la mesure et de la métrologie

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Depuis plus de 30 ans, les Journées de la Mesure et de la Métrologie (J2M) constituent un événement phare pour les professionnels de la mesure, de la métrologie et des sciences de l’instrumentation. Créées en 1990 sous le nom de Journées de la Mesure (JDM), ces journées biennales ont su évoluer pour répondre aux enjeux technologiques et scientifiques d’aujourd’hui.

Qu’est-ce que les J2M ?

Les J2M, organisées par INRAE dans le cadre de sa démarche qualité depuis 2004, sont bien plus qu’un simple colloque technique. Elles rassemblent les communautés de mesureurs et de métrologues, en créant un espace unique de partage, de formation et de valorisation des compétences. C’est un moment privilégié pour échanger sur les bonnes pratiques, découvrir les nouvelles technologies de mesure, mais aussi présenter des travaux innovants.

Une rencontre pour construire un réseau solide

L’un des objectifs historiques des JDM, aujourd’hui J2M, est de mutualiser les expériences et de favoriser la création d’un réseau national de compétences entre ITA (Ingénieurs, Techniciens, Administratifs), chercheurs et spécialistes de la mesure. Grâce aux retours d’expérience, aux ateliers techniques et aux présentations scientifiques, les participants repartent enrichis de solutions concrètes et de contacts utiles.

Métrologie et mesure : une complémentarité essentielle

Depuis l’édition charnière de 2004, les J2M intègrent pleinement la métrologie, discipline indispensable à toute mesure fiable et traçable. La rencontre entre mesureurs – qui donnent un sens physique aux données via les capteurs – et métrologues – garants de la validation et de la qualité des résultats – crée une synergie essentielle à la recherche scientifique et à l’innovation technique.

Pourquoi participer aux J2M ?

• Découverte de nouvelles technologies de mesure, d’instrumentation et de traitement des données
• Partage d’expériences entre professionnels confrontés aux mêmes problématiques
• Création de liens interstructures au sein d’INRAE et au-delà
• Montée en compétence sur les enjeux de traçabilité, d’incertitude, et de validation des données
• Visibilité des travaux techniques, souvent méconnus mais essentiels à la recherche

Les thématiques couvertes lors des Journées de la Mesure et de la Métrologie sont larges et toujours d’actualité :

• Technologies des capteurs
• Montages électroniques et systèmes d’acquisition
• Traitement du signal et analyse de données
• Logiciels de traitement maison ou commerciaux
• Archivage et pérennisation des données de mesure
• Fonctions métrologiques (étalonnage, gestion des équipements, etc.)
• Analyse d’images, automatique, instruments de laboratoire, etc.

Une édition soutenue par les experts du secteur

Les précédentes éditions des J2M ont bénéficié du soutien de structures de référence telles que le LNE (Laboratoire National de Métrologie et d’Essais), le CT2M, le CFM, ainsi que des départements de recherche INRAE. Ce partenariat témoigne de la rigueur scientifique et technique de l’événement.

Ne manquez pas la prochaine édition des J2M !

Que vous soyez technicien, ingénieur, chercheur ou simplement passionné par la précision scientifique, les J2M sont le lieu idéal pour approfondir vos connaissances, échanger avec vos pairs et contribuer à l’amélioration continue de la mesure au sein de votre organisation.

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