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Mesure dynamique haute densité : capter chaque signal sans compromis avec le NI-9320
Dans les environnements de test modernes, la complexité des systèmes électroniques impose de gérer un nombre croissant de signaux dynamiques, souvent transitoires, tout en conservant une précision élevée et une parfaite synchronisation entre les voies. Que ce soit en automobile, en aérospatial ou en R&D industrielle, chaque microseconde compte pour comprendre le comportement réel d’un système.
Le NI-9320 s’inscrit dans cette logique en apportant une réponse concrète aux besoins d’acquisition simultanée haute densité. Il permet d’obtenir rapidement des données fiables pour approfondir l’analyse des phénomènes dynamiques et accélérer les cycles de test, notamment dans les applications de PCBA et de validation électronique avancée.
Avec un taux d’échantillonnage de 200 kS/s par canal, le NI-9320 fournit la bande passante nécessaire pour capturer fidèlement les événements rapides, sans compromis sur la capacité ou l’intégrité des canaux. Cette approche est particulièrement adaptée aux architectures de test où plusieurs phénomènes dynamiques doivent être observés en parallèle.
La gamme d’entrée ±10 V associée à une résolution de 16 bits permet de couvrir un large éventail de signaux analogiques, depuis les variations rapides jusqu’aux dynamiques plus fines, tout en garantissant une excellente qualité de mesure.
Le NI-9320 trouve naturellement sa place dans de nombreux scénarios où la densité et la rapidité d’acquisition sont critiques :
En combinant haute densité de canaux, mesure simultanée rapide et isolation renforcée, le NI-9320 répond aux exigences des ingénieurs confrontés à des systèmes complexes et fortement dynamiques. Il constitue une solution pertinente pour moderniser des bancs existants ou concevoir de nouvelles architectures de test orientées performance et fiabilité.
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