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Note d'application dédiée aux tests de MEMS à ultrasons

Posté le: 26/10/21 | Catégories: Actualités, TESTS & MESURES

Téléchargez la note d'application dédiée aux tests de MEMS à ultrasons à l'aide du générateur de formes d'ondes arbitraires AT-AWG 401x

Note d'application dédiée aux tests de MEMS à ultrasons

La présente note d’application décrit l’utilisation du générateur de formes d’ondes arbitraires AT-AWG-401X pour générer les signaux destinés aux tests et à la conception des capteurs MEMS à ultrasons.

Le générateur de formes d’onde arbitraires AT AWG-4012 / 14 / 18 simplifie la génération de signaux d’impulsions et de chirp généralement utilisés pour procéder aux tests de conception et à la caractérisation des capteurs MEMS.

Compte tenu de l’amplitude de 24 Vpp en haute impédance (12 Vpp en 50 Ohms) alliée à un offset analogique de ±12 V en haute impédance, le AWG-401X constitue la solution idéale pour ces types de tests où une amplitude de tension élevée, une durée d’impulsion et un temps de montée / descente programmables sont exigés.

Téléchargez ici 

Caractéristiques techniques

  • Nombre de voies analogiques : 2, 4 et 8
  • Voies digitales : 8, 16 ou 32 (opt)
  • Taux d'échantillonnage : 1,2 GS/s
  • Longueur d'enregistrement : 2 à 128 Mpts
  • Résolution verticale : 14 bits
  • Fréquences maximale : 300 MHz
  • Tension de sortie maximale : 6 Vpp -12 Vpp (Opt)
  • Fenêtre de tension de sortie : 24 Vpp
AWG4000

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