Téléchargez le livre blanc dédié à la caractérisation de PiC (circuit intégré photonique en vogue avec l'ordinateur quantique).

Le boom actuel de la bande passante (déploiements haut-débits, installation 5G et explosion des data-centers) est piloté en grande partie par les circuits intégrés photoniques (PIC).

Les PIC ont fait entrer la photonique dans le domaine de l'électronique intégrée en offrant un potentiel infini dans des applications allant de la médecine, aux centres de données, en passant par les voitures autonomes et l'informatique quantique.

Tester un tel composant complexe pose de nombreux défis.
Au début du développement des PIC, la conception, la fabrication et les tests étaient effectués par des groupes de recherche universitaires hautement spécialisés.
Le chercheurs ont eu besoin de créer leurs propres solutions personnalisées.

Avec la pression croissante d'aujourd'hui dans le milieu des télécoms, le test et la mesure des PIC doivent se faire beaucoup plus rapidement et devenir plus fiables et répétables.
Des sources laser accordables, analyseurs de spectre, testeur de taux d’erreur et de diagramme de l’œil sont des équipements indispensables pour leur caractérisation.

Ce livre blanc couvre les principes de base des tests optiques directement sur wafers et les meilleures méthodes de mesure pour les composants actifs ou passifs présents sur la puce PIC.

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