Les circuits intégrés (ICs) sont au cœur des systèmes électroniques modernes, qu’ils soient numériques, analogiques, de puissance ou de communication. Leur fiabilité ne peut pas être évaluée uniquement dans des conditions nominales. Les tests de stress permettent d’analyser leur comportement lorsque les paramètres électriques dépassent volontairement les spécifications habituelles.

Ce livre blanc technique explique comment utiliser un générateur de fonctions comme outil central pour conduire des campagnes des tests de stress reproductibles, ciblées et efficaces sur les circuits intégrés, en complément d’une alimentation DC et d’un oscilloscope.

Pourquoi effectuer des tests de stress sur un circuit intégré ?

Les tests de stress visent à révéler des modes de défaillance qui n’apparaissent pas lors d’un fonctionnement standard. En soumettant un IC à des contraintes électriques extrêmes ou accélérées, il devient possible d’identifier des limites de conception, des faiblesses de matériaux ou des marges de fonctionnement insuffisantes.

Le livre blanc détaille cette approche méthodique et montre comment le générateur de fonctions permet de créer des signaux non idéaux, représentatifs de conditions réelles ou dégradées.

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