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Laboratoire d’études profilométrie, tribologie, essais mécaniques 

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Laboratoire d’études profilométrie, tribologie, essais mécaniques
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Chez Nanovea, nous perfectionnons continuellement nos systèmes de nanoindentation, de profilométrie et de tribologie, en visant toujours les plus hauts standards de précision et de fiabilité.
Notre équipe a également étendu ses services pour inclure des programmes de formation personnalisés et des services de laboratoire tiers pour des tests spécialisés. À mesure que nous nous développons à l'international (États-Unis, Mexique, Europe et Inde), nous nous engageons à fournir un support et une qualité constants, notamment depuis notre siège européen à Turin, où nous proposons un support technique direct et un laboratoire de démonstration.

NANOVEA : Tests et conseils en laboratoire
Depuis plus de vingt ans, NANOVEA fournit des solutions de test pour des applications complexes en R&D et en contrôle qualité pour l'ingénierie des matériaux.
Des milliers de clients, à la pointe des industries les plus exigeantes, font confiance à la précision inégalée et à la supériorité technique de nos instruments.

En tant que développeur et fabricant d'instruments de pointe pour les tests et le contrôle qualité des matériaux, NANOVEA a acquis une expertise unique pour offrir à ses clients du monde entier une gamme complète de services de conseil et de tests de matériaux.

PROFILOMÉTRIE :
Analyse de surface 3D sans contact
Conditions environnementales : HAUTE TEMPÉRATURE
Analyse de surface :

  • Planéité et gauchissement
  • Géométrie et forme
  • Rugosité et finition
  • Hauteur et épaisseur des marches
  • Texture et grain
  • Volume et surface

Normes :

  • ISO 4287
  • ISO 12085
  • ISO 12181
  • ISO 12780
  • ISO 13565
  • ISO 25178

ESSAIS MÉCANIQUES :

Charges nanométriques et micrométriques
Conditions environnementales : Haute température / Basse température / Liquide
Indentation :

  • Fluage et relaxation
  • Ténacité à la rupture
  • Dureté et élasticité
  • Perte et stockage
  • Contrainte et déformation
  • Limite d'élasticité et fatigue

Rayer :

  • Rupture adhésive et cohésive
  • Usure multipasse
  • Dureté à la rayure

Friction :

  • Coefficient de friction

Normes :

  • ASTM B578
  • ASTM C1624
  • ASTM D7968
  • ASTM E384
  • ASTM E2546
  • ASTM G171

TRIBOLOGIE :
Chargement pneumatique avancé
Conditions environnementales : haute température / basse température / liquide / corrosion
Tests de frottement et d'usure :

  • Rotationnel
  • Linéaire
  • Arc alternatif
  • Bloc sur anneau
  • Anneau sur anneau (rondelle de butée)

Normes :

  • ASTM D3702
  • ASTM D4172
  • ASTM F732
  • ASTM G77
  • ASTM G99
  • ASTM G133


Topologie de surface et analyse chimique

Spectroscopie IR
Acquisition de spectres IR de matériaux connus :
Analyse réalisée sur échantillon et étalon par la méthode FTIR-ATR sans prétraitement.
Acquisition de spectres IR de matériaux inconnus :
Analyse réalisée par la méthode FTIR-ATR sans prétraitement. Définition des groupes fonctionnels.

Chromatographie
GC-MS :
Identification qualitative/semi-quantitative des composants des huiles et des matières organiques soumises à des tests tribologiques
LC-MS :
Identification qualitative/semi-quantitative des composants des huiles et des matières organiques soumises à des tests tribologiques

Microscopie électronique :
MET :
Microanalyse ponctuelle ou cartographie de distribution des éléments
MEB-FE/EDS :
Microanalyse ponctuelle ou cartographie de distribution des éléments

Analyse thermogravimétrique et thermovolumique :
ATG :
Avec flux d'azote ou atmosphère oxydante.
Plage de températures : [-90 °C, 500 °C].
Poids minimal de l'échantillon à tester : 10 mg.
DSC :
Identification qualitative/semi-quantitative des composants des huiles et des matériaux organiques soumis à des tests tribologiques.

Microscopie à force atomique (AFM) :
Analyse AFM haute résolution pour la topologie et les informations 3D avancées à l'échelle sub-nano

Diffraction des rayons X :
Diffraction des rayons X sur poudre et échantillons massifs
Analyse des données de diffraction des rayons X
Définition quantitative de la composition cristalline (méthode de Rietveld)
Définition des contraintes résiduelles

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