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Système de test hautes performances 802.11be Wi-Fi 7, Wi-Fi 6E et Wi-Fi 6 : IQxel-MX | LITEPOINT

La génération et l'analyse de signaux IQxel-MX combinent des performances élevées, une simplicité d'utilisation et une rentabilité de test supérieure pour couvrir les exigences de test tout au long du cycle de développement du produit, de la R&D à la production en grand volume.

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Description

Performances de pointe pour les tests Wi-Fi 7, Wi-Fi 6E et Wi-Fi 6

Les Appareils sans fil de nouvelle génération ; les points d'accès, les CPL et les appareils clients tels que les smartphones ou les tablettes basés sur la norme IEEE 802.11be EHT (Extremely High Throughput) nécessitent des performances RF rigoureuses pour répondre aux dernières exigences des normes. Les fonctionnalités PHY comprenant le fonctionnement tri-bande dans les bandes de fréquences 2,4 GHz, 5 GHz et 6 GHz, les canaux extra-larges de 320 MHz, la modulation QAM 4096, jusqu'à 16 flux spatiaux et le fonctionnement multi-liens (MLO) repoussent les limites du Wi-Fi. LitePoint a développé la plate-forme de test IQxel-MX avec des performances de pointe pour garantir que chaque appareil sans fil testé respecte ou dépasse les exigences strictes de 802.11be.


Wi-Fi 7, la plus rapide des générations Wi-Fi, nécessite une solution de test plus performante et LitePoint a développé la plate-forme de test IQxel-MX avec des performances de pointe.

La génération et l'analyse de signaux IQxel-MX combinent des performances élevées, une simplicité d'utilisation et une rentabilité de test supérieure pour couvrir les exigences de test tout au long du cycle de développement du produit, de la R&D à la production en grand volume. La famille IQxel-MX est disponible en trois configurations : 2 ports (2 VSA/VSG), 8 ports (2 VSA/VSG) et 16 ports (4 VSA/VSG). Ceux-ci prennent en charge jusqu'à 2 × 2 et 4 × 4 tests MIMO véritables (extensibles à 16 × 16) et des tests parallèles multi-DUT à haute efficacité.

Conçu pour les tests Wi-Fi 7, Wi-Fi 6E et Wi-Fi 6 dans les bandes 2,4 GHz, 5 GHz et 6 GHz

  • Gamme de fréquence de 400 MHz à 7300 MHz
  • Bande passante d'analyse de plus de 320 MHz
  • Amplitude du vecteur d’erreur (EVM), le meilleur de sa catégorie pour assurer la plus haute précision de mesure pour 4096 QAM
  • Prise en charge de l'architecture pour les tests multi-liens/multicanaux (MLO) et de coexistence avec les combineurs internes
  • Répond aux exigences de l'IEEE 802.11be (Wi-Fi 7),  802.11ax (Wi-Fi 6/6E) et 802.11ac (Wi-Fi 5) et teste les spécifications IEEE 802.11
  • La génération de signaux couvre les OFDMA RU et multi-RU (MRU)
  • L'analyse du signal couvre toutes les mesures standard EHT PHY pour l'émetteur (masque spectral, planéité, erreur de fréquence, erreur de constellation et plus) et le récepteur (sensibilité, ACR et plus)

Large gamme de technologies de connectivité (Bluetooth et Bluetooth Low Energy 5.x, 802.15.4, DECT, LPWAN)

  • Teste toutes les normes d'appareils Bluetooth (1.x, 2.x, 3.0, 4.x, 5) et les nouvelles versions BT 5.1 et BT 5.2
  • Normes de connectivité DECT (ETSI EN 300 176-1), normes basées sur PHY 802.15.4, y compris ZigBee, Z-Wave et WiSUN
  • Support de test pour les technologies LPWAN LoRa et Sigfox

Solutions clé en main pour les principaux fabricants de chipsets WLAN et Bluetooth

Options technologiques disponibles pour WLAN, Bluetooth, IoT et LPWAN

  • Wi-Fi, 802.11be (Wi-Fi 7)
  • Wi-Fi, 802.11ax (Wi-Fi 6, Wi-Fi 6E)
  • Wi-Fi, 802.11ac (Wi-Fi 5)
  • Wi-Fi, 802.11a/b/g/j/n/p
  • Wi-Fi, 802.11af 
  • Wi-Fi, 802.11ah (HaLow)
  • Wi-Fi, positionnement de nouvelle génération (NGP) 802.11az
  • Wi-Fi, radio de réveil 802.11ba (WUR)
  • Bluetooth EDR et LE : 1.2, 2.0, 2.1, 3.0, 4.0, 4.1, 4.2, 5.0, 5.1, 5.2
  • Zigbee, Z-Wave et Wi-SUN
  • DECT
  • LPWAN : Sigfox, LoRa

 

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