Description
NI est fier de présenter sa dernière innovation en matière de test NFC : le CTS III. Cette nouvelle plate-forme de test aidera tout implémenteur de la technologie NFC à effectuer des tâches de validation plus approfondies et à assurer un chemin plus rapide vers la certification de leurs produits.
Le CTS III est le plus gros investissement de NI à ce jour dans le domaine des tests NFC. Prenant en compte l'évolution du marché des tests NFC et les retours des nombreux utilisateurs des anciennes générations d'équipements de test NFC de NI, cet outil présente des capacités de test de conformité avec une commodité jamais vue auparavant. Moins de câblage, moins de temps d'installation, la vision du CTS III des tests automatisés NFC n'a jamais été aussi organique.
De plus, les nouvelles fonctionnalités de génération de signal NFC permettent de pousser votre conception à ses limites lors de sa phase de validation. La simulation du bruit, la diaphonie, les dépassements et tous les autres réglages de paramètres sont disponibles directement depuis notre API MPManager.
Le CTS III est une combinaison de ressources matérielles jamais utilisées auparavant dans le cadre de tests NFC. Les meilleurs convertisseurs de leur catégorie, les FPGA les plus puissants… Les bancs de test de non régression combinant l'utilisation de générateurs de signaux NFC, de cartes DAQ, de VNA, peuvent désormais être simplifiés dans le déploiement du CTS III. Ces éléments sont combinés entre eux à l'aide de bus de communication fonctionnant à une portée de plusieurs Go/s, au service de l'amélioration de votre propre productivité.
La Station de Test Sans Contact III sera typiquement utilisée dans le contexte suivant :
- Validation et vérification des produits qui intègrent la technologie NFC
- Tests de pré-conformité et de conformité selon les normes internationales (par exemple EMVCo, NFC Forum, ISO 10373-6) des produits qui intègrent la technologie NFC
- Tests d'interopérabilité des appareils compatibles NFC
L'appareil à tester peut être :
- Téléphones intelligents
- Wearables (montres, aides auditives, …)
- Terminaux de paiement
- Poignées de porte de voiture
- Cartes à puce sans contact
- Appareils intelligents et connectés
- Appareils M2M
Caractéristiques techniques
- Mesures intégrées
- Fréquence de résonance / facteur Q (5 MHz à 30 MHz)
- Impédance complexe
- Temps de réponse
- Amplitude de modulation de charge
- Intensité du champ PCD
- Forme d'onde PCD
- Vue oscilloscope
- Commission des acquisitions
- Résolution : 16 bits
- Taux d'échantillonnage : 150 Msps
- Canaux : 2
- Mémoire disponible : 1 Go
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