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Microscope avec interferomètre fibre haute résolution et cantilevever sans alignement LT-AFM / MFM : Agrandir l'image

Microscope avec interferomètre fibre haute résolution et cantilevever sans alignement : LT-AFM / MFM | NANOMAGNETICS INSTRUMENTS

Système LT-AFM/MFM équipé d'un interféromètre à fibre haute résolution fonctionnant à 1310 nm et permet des mesures à des températures allant de 20 mK à 300 K et des champs magnétiques jusqu'à 16 T avec un niveau de bruit de 15 fm/√Hz.

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Documentation LT-AFM / MFM

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Description

Le LT-AFM/MFM est un système de microscopie à force atomique sans alignement équipé d'un interféromètre à fibre fonctionnant à 1310 nm, un niveau de bruit de 15 fm/√Hz avec une plage de fonctionnement de 20 mK à 300 K et un champ magnétique jusqu'à 16 T.

Caractéristiques :

  • MFM/AFM sans cryogène 
    • Conception AFM rigide 
    • Microscope a force atomique 
    • Microscope avec sonde à effet balayage 
    • EFM, PFM, SSRM, STM etc … 
  • Cryostat sans cryogène : 
    • Conception permettant d’éviter les vibrations 
    • Système 100% sec 
    • Cycle fermé 
    • Gamme 1,5 K – 400 K 
    • Jusqu’à 20 Tesma 
    • Faibles couts d’entretien

Spécifications : 

Temperature

Ultra Large Area Scan Head

Large Area Scan Head

Standart Scan Head
300 k  200x200x7.2 µm 150x150x7 µm 52x52x4.8 µm
77 k 50x50x4.8 µm 36x36x1,8 µm 14x14x1.2 µm 
4,2 K 30x30x2.4 µm 18x18x0,8 µm 6x6x0.5 µm

Sample Approach

 Stick-slip type; 10mm Z, Ø3 mm XY range with 50 - 800nm

Fine Sample Positioning :

 Capacitive encoder with 2μm resolution

Sample Size

 15x15x5mm maximum

Sample Holder :

 5 pins connections for experiments : One bias voltage, 4 spares

Magnetic Field :

 up to 20 T

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