Charge électronique DC double – modes CC/CR/CV/CP : Série 3330F | PRODIGIT

La série 3330F regroupe des charges électroniques DC double canal conçues pour les environnements de test exigeants. Chaque module intègre deux charges indépendantes, permettant la réalisation d’essais parallèles, la simulation de profils dynamiques et la caractérisation précise des alimentations, convertisseurs, batteries et dispositifs électroniques. Son architecture modulaire assure une parfaite intégration en R&D, en validation et en production.

Avantages :

Les charges électroniques de la série 3330F offrent une grande flexibilité de test grâce à leurs multiples modes de fonctionnement et à l’affichage simultané tension / courant / puissance. La mémoire interne jusqu’à 150 configurations et la possibilité de pilotage à distance optimisent les processus de test automatisés. L’isolation des deux voies garantit reproductibilité et précision.

Caractéristiques principales :

• Deux charges DC indépendantes par module.
• Modes CC, CR, CV, CP et dynamique avec réglage du slew rate.
• Affichage LCD grand format, réglages par encodeur et touches dédiées.
• Affichage simultané des mesures V/A/W sur les deux canaux.
• Fonctions intégrées OCP et OPP.
• Paramétrage du comportement au démarrage.
• Compatibles avec châssis monocarte, double et quadruple.
• Jusqu’à 150 mémoires internes pour le stockage utilisateur.
• Protections : surtension, surintensité, surpuissance, surtempérature.
• Interfaces optionnelles : RS232, USB, LAN, GPIB.

Applications typiques :

• Caractérisation d’alimentations DC et de convertisseurs.
• Tests transitoires sur alimentations à découpage.
• Simulation de charge batterie et décharge contrôlée.
• Validation de circuits intégrés d’alimentation.
• Intégration dans systèmes ATE et bancs de production.
• Essais en R&D, contrôle qualité et tests fonctionnels.

Pourquoi choisir la série 3330F :

Cette gamme combine précision, robustesse et modularité pour les environnements de test avancés. Son architecture double optimisée pour la synchronisation, sa large capacité de configuration et ses fonctionnalités de test intégrées en font une solution polyvalente pour les applications industrielles et de recherche nécessitant une instrumentation fiable et reproductible.