RESSOURCES / ACTUALITÉS / SALONS / WEBINAIRES
Dernières Actualités
InnoMux2-EP : simplifier les alimentations flyback multi-sorties haute tension
Évaluation du risque CEM pour les porteurs de dispositifs médicaux implantables actifs
Test d’alimentation et IA : améliorer vos mesures avec l’oscilloscope Keysight HD3
Evaluation des valeurs de simulation, localisation des sources d'interférences et surveillance en temps réel
Les sondes de champ proche sont devenues essentielles dans le développement des assemblages électroniques. Elles sont couramment utilisées avec succès dans le développement de dispositifs haute fréquence et la CEM (compatibilité électromagnétique) et permettent d'évaluer les valeurs de simulation, de localiser les sources d'interférences et de réaliser une surveillance en temps réel.
Notre nouveau partenaire Langer vous propose une large gamme de sondes de champ proche et d'équipements autour de la CEM, qui permettent d'examiner des structures difficiles d'accès.
Découvrez dans notre article les applications possibles avec les produits Langer.