Sources accordables
Génération laser continue pour la caractérisation optique et les balayages spectraux rapides.
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Ces solutions facilitent la sélection de canaux, l’analyse de sous-bandes et la caractérisation de systèmes optiques complexes.
Dans un banc de test optique, la performance de la mesure repose sur deux fonctions complémentaires : générer un signal optique accordable de manière rapide et stable, puis sélectionner précisément la bande ou le canal à analyser. C’est précisément la logique couverte par les sources accordables EXFO T200S et T500S et par les filtres à bande passante accordable XTA-50 et XTM-50. Ensemble, ces quatre références répondent à des besoins avancés de caractérisation de composants optiques, de circuits photoniques intégrés, de systèmes DWDM et de bancs de test pour la R&D comme pour la fabrication.
En un coup d’œil
Sources accordables
Génération laser continue pour la caractérisation optique et les balayages spectraux rapides.
Filtres accordables
Sélection de canaux et extraction de sous-bandes pour les tests optiques avancés.
T200S
Laser accordable jusqu’à 200 nm/s, 10 dBm, sur la plage 1500 à 1630 nm.
T500S
Source haute puissance pour des tests rapides et fiables sur composants optiques et PIC.
XTA-50
Filtre automatique à bande passante accordable pour bancs de test instrumentés.
XTM-50
Version manuelle du filtre accordable pour réglages fins en environnement de laboratoire.
Plutôt que de considérer ces références séparément, il est plus pertinent de les lire comme les briques d’une même chaîne de mesure. Les T200S et T500S couvrent la fonction de source optique accordable : ils servent à injecter une longueur d’onde précise, à balayer une réponse spectrale ou à exécuter une séquence de mesure rapide sur un composant passif ou un circuit photonique intégré. Les XTA-50 et XTM-50 couvrent ensuite la fonction de filtre optique accordable : ils permettent d’isoler un canal, de travailler sur une sous-bande ou d’améliorer la sélectivité d’analyse dans des architectures à forte densité spectrale.
Sources accordables : la base de la caractérisation spectrale
Les sources accordables sont au cœur des bancs de test optiques dès qu’il faut balayer une réponse spectrale avec rapidité et stabilité. Le T200S répond parfaitement à cet usage avec un accord continu, une vitesse de balayage jusqu’à 200 nm/s, une puissance de sortie de 10 dBm et une plage de 1500 à 1630 nm. Il constitue une solution efficace pour la caractérisation de composants optiques et les travaux sur circuits photoniques intégrés.
Le T500S étend cette approche avec un positionnement plus haut de gamme. Il combine balayage rapide, puissance élevée et large couverture spectrale pour accélérer les campagnes de mesure sur composants optiques et PIC. C’est la solution à privilégier lorsque le banc exige plus de dynamique, plus de souplesse et des tests plus intensifs.
| Source | Positionnement | Points techniques | Applications |
| T200S | Source accordable rapide pour tests télécom ciblés | 200 nm/s, 10 dBm, 1500 à 1630 nm, modes longueur d’onde fixe et balayage continu, fonctionnement sans saut de mode | Caractérisation de composants optiques, balayage spectral rapide, R&D photonique, tests de PIC |
| T500S | Source accordable haute puissance pour bancs avancés | Jusqu’à 200 nm/s, jusqu’à 14 dBm en crête, couverture jusqu’à 1240 à 1680 nm selon modèles, excellente largeur de raie en mode fixe | Tests rapides et fiables de composants optiques, PIC, campagnes de mesure avancées en labo et en production |
Filtres accordables : la sélectivité au service des canaux optiques
Les filtres accordables apportent la sélectivité indispensable pour isoler un canal, extraire une sous-bande ou affiner une analyse spectrale. Le XTA-50 se distingue par sa bande passante réglable, son profil à sommet plat et sa forte sélectivité, ce qui en fait un outil particulièrement adapté aux tests de canaux, aux essais BER et aux architectures DWDM ou WDM-PON.
Le XTM-50 reprend les mêmes performances optiques avec une logique de réglage manuel. Il s’adresse aux environnements de laboratoire qui recherchent un contrôle direct de la longueur d’onde et de la bande passante, tout en conservant un haut niveau de précision pour les travaux de sélection de canaux et d’analyse de sous-bandes.
| Filtre | Type de réglage | Atouts techniques | Applications |
| XTA-50 | Automatique | Bande passante accordable, sommet plat, très forte sélectivité, pentes très raides, grilles ITU, domaine spectral de 200 nm | Sélection de canaux, extraction de sous-bande, tests BER, WDM-PON, DWDM, OFDM, modules actifs, transpondeurs |
| XTM-50 | Manuel | Même module optique que le XTA-50, réglage manuel par micromètres, haute isolation, forte sélectivité | Laboratoire, réglages fins, sélection de canaux, analyse de sous-bande, évaluation sur banc optique |
Pourquoi associer source accordable et filtre accordable sur un même banc
Sur un banc de test optique, la source accordable et le filtre accordable ne remplissent pas la même fonction : ils se complètent. Cette association permet de construire une chaîne de mesure plus sélective, plus lisible et mieux adaptée aux architectures photoniques avancées.
Logique de banc
Source accordable : injection d’un signal optique stable, accordable et exploitable pour le balayage spectral.
Filtre accordable : isolation d’un canal ou d’une sous-bande pour affiner l’analyse et renforcer la sélectivité de mesure.
En pratique, le T200S ou le T500S assure la génération du signal accordable, tandis que le XTA-50 ou le XTM-50 apporte le niveau de filtrage nécessaire pour travailler avec une bande passante précisément définie.
Applications typiques de cette approche
Ce qu’il faut retenir
Avec les T200S, T500S, XTA-50 et XTM-50, EXFO propose un ensemble particulièrement cohérent pour les professionnels qui ont besoin de maîtriser à la fois la génération laser accordable et le filtrage optique accordable. Les deux sources répondent aux besoins de balayage spectral et de caractérisation rapide. Les deux filtres permettent de pousser l’analyse plus loin grâce à une sélection fine des canaux et des sous-bandes. Pour un laboratoire photonique, un environnement de test DWDM ou un banc de caractérisation de PIC, cette combinaison constitue une base technique solide.