Note d'appli : Comment caractériser de la logique numérique avec le générateur de pattern ?

Cette note d'application met en avant comment utiliser le générateur de pattern série AT-AWG-4010 pour le test et la caractérisation des portes logiques standards et tous les systèmes numériques génériques.

Le générateur de pattern série AT-AWG-4010 simplifie la génération d'impulsions à plusieurs niveaux grâce à ses fonctionnalités qui combinent la mise en forme des impulsions et la capacité de reproduire un modèle programmé à plusieurs niveaux.
Compte tenu de l'amplitude de 12 Vpp en 50 Ohm (24 Vpp en ouvert) joint à un offset analogique de ± 6 V en 50 Ohm (± 12 V en ouvert) et du débit de symboles maximal de 300 Méga-symboles par seconde.

Points clés :

• Caractériser les portes logiques numériques et les circuits intégrés
• Générateur de pattern série AT-AWG-4012/4014/4018

Avantages :

• Accélérez la recherche, la fiabilité et les études d'analyse des défaillances des dispositifs à semi-conducteurs
• Réduisez le temps entre la configuration et l'exécution de la caractérisation des portes logiques numériques

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