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Alimentation programmable PXIe, 1 voie, 300 W, 20 V, 25 A : PXIe-4151 Agrandir l'image

Alimentation programmable PXIe, 1 voie, 300 W, 20 V, 25 A : PXIe-4151 | NI - NATIONAL INSTRUMENTS

Le PXIe-4151 de National Instruments est une SMU (Source Measure Unit) haute précision au format PXI Express, conçue pour fournir et mesurer simultanément des signaux de tension et de courant avec une résolution et une stabilité exceptionnelles..

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Description

Le PXIe-4151 de National Instruments est une SMU (Source Measure Unit) haute précision au format PXI Express, conçue pour fournir et mesurer simultanément des signaux de tension et de courant avec une résolution et une stabilité exceptionnelles. Offrant une plage de tension jusqu’à 60 V et une plage de courant jusqu’à 3 A, cette SMU est idéale pour la caractérisation de composants électroniques, les tests de dispositifs semi-conducteurs et les applications de R&D nécessitant un contrôle ultra-précis.

Avantages :

  • Mode source et mesure intégrés pour tension et courant.
  • Plage de tension étendue : 0 à 60 V.
  • Plage de courant élevée : jusqu’à 3 A.
  • Résolution et précision ultra-fines pour les mesures critiques.
  • Temps de stabilisation rapide et faible bruit pour des acquisitions fiables.
  • Isolation galvanique pour réduire les interférences et protéger le dispositif sous test.
  • Compatibilité totale avec l’écosystème PXI NI et intégration facile dans les systèmes automatisés.

Caractéristiques principales :

  • Tension de sortie : 0 à 60 V DC, résolution jusqu’à 100 nV (mode mesure).
  • Courant de sortie : jusqu’à 3 A, résolution 100 pA (mode mesure).
  • Précision de mesure :
    • Tension : jusqu’à 0,015 % + 1,5 mV.
    • Courant : jusqu’à 0,03 % + 200 nA.
  • Modes de fonctionnement : tension constante (CV), courant constant (CC) et balayages programmables.
  • Mesure 6½ digits intégrée.
  • Faible ripple et bruit pour garantir la stabilité des mesures.
  • Format PXI Express : 3U, 1 slot.

Applications :

  • Caractérisation précise de semi-conducteurs et composants sensibles.
  • Bancs de test automatisés pour R&D et production.
  • Tests nécessitant une précision extrême et une programmation flexible.
  • Mesures de courant de fuite et de paramètres I-V de haute précision.

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