Description
Description
La station de sondes semi-automatisée à matrice unique d’EXFO, modèle OPAL-SD, est une solution d’entrée de gamme, flexible, rentable et évolutive pour l’alignement et les tests optiques automatisés des circuits intégrés photoniques (PIC). Conçue pour les petites équipes de R&D et les universités, cette station permet de développer des processus de test automatisés et flexibles, avec des résultats traçables et interrogeables.
Spécifications Techniques Clés
- Alignement et test optiques automatisés : Permet des mesures précises et répétables des performances des PIC.
- Platine manuelle à 4 axes et mandrin : Système de base pour un positionnement précis.
- Options de têtes optiques motorisées : Disponibles pour le couplage de surfaces verticales ou de bords précis, avec des systèmes de mouvement motorisés à 3 ou 6 axes.
- Sondes électriques manuelles ou motorisées : Pour le sondage DC ou RF.
- Mandrin thermique en option : Pour le contrôle thermique de la matrice.
- Système de vision supérieure et latérale : Pour une inspection visuelle complète.
- PC industriel et suite logicielle PILOT : Pour le contrôle et l’automatisation des tests.
Applications
La station OPAL-SD est idéale pour :
- Sondage et test optique et électrique du PIC au niveau de la puce, du module ou de la barre.
- Pour la R&D, la vérification de la conception en petite quantité et le développement de tests.
- Parfait pour les universités et les équipes R&D.
- Tests optoélectroniques de plates-formes photoniques intégrées (ex. silicium photonique, phosphure d'indium, III-V, polymère, hétérogène).
- Indépendant de l'application (ex. émetteurs-récepteurs télécom et datacom, quantum, LIDAR, capteurs, IA).
Marchés
- Universités et centres de recherche
- Industries de la photonique
- Fabricants de circuits intégrés
La station de sondes semi-automatisée OPAL-SD d’EXFO est une solution polyvalente et performante pour répondre aux besoins de test et de mesure des circuits intégrés photoniques, offrant une grande précision et une évolutivité pour les applications de R&D et de fabrication
Caractéristiques :
- Solution de niveau recherche pour le test et la caractérisation des PIC.
- Pour la R&D, la vérification de la conception en petite quantité et le développement de tests.
- Préparation, exécution automatisée (alignement, contrôle des instruments) et gestion des données (dépôt, analyse) avec le logiciel PILOT.
- Différentes options de têtes optiques, selon les besoins : Jusqu'à 6 axes motorisés pour le couplage de surface et de bord avec des fibres simples ou des réseaux de fibres.
- Positionneurs de sondage précis à courant continu et à radiofréquence.
