Description
L’IM7580A-1de HIOKI est un analyseur d’impédance haute fréquence conçu pour des mesures rapides et précises dans une plage de fréquence allant de1 MHz à 300 MHz. Grâce à sa vitesse de test exceptionnelle de0,5 ms, il répond aux exigences des environnements de production à haut volume tout en étant parfaitement adapté aux besoins de la recherche et du développement.
Avantages
- Mesures ultra-rapides: Temps de test minimal de 0,5 ms pour une productivité accrue.
- Haute précision: Précision de base de ±0,72 % (impédance) et ±0,41° (angle de phase).
- Format compact: Boîtier demi-rack et tête de test de taille réduite pour une intégration facile.
- Polyvalence de mesure: Modes LCR et Analyseur pour des mesures en balayage de fréquence, de niveau ou temporelles.
- Fiabilité renforcée: Fonction de vérification de contact intégrée pour garantir la qualité des connexions.
Caractéristiques principales
- Plage de fréquence de mesure: 1 MHz à 300 MHz
- Méthode de mesure: Méthode RF I-V
- Temps de mesure: 0,5 ms (minimum)
- Plage de signal de mesure: -40 dBm à +7 dBm
- Précision de base:
- Impédance (Z) : ±0,72 % de la lecture
- Angle de phase (θ) : ±0,41°
- Dimensions: Format demi-rack
- Accessoires inclus: Câble de connexion de 1 m
- Compatibilité: Utilisable avec le support de test SMD IM9201 (vendu séparément)
Applications typiques
- Contrôle qualité en production de composants électroniques
- Caractérisation de composants passifs (condensateurs, inductances)
- Recherche et développement en électronique haute fréquence
- Mesures sur circuits imprimés et modules RF
- Tests en environnement de laboratoire ou sur site grâce à sa portabilité
Informations complémentaires
Le modèle IM7580A-1est livré sans support de test ni sonde. Pour une utilisation optimale, il est recommandé de l’associer à un accessoire compatible tel que le support de test SMD IM9201. La fonction comparateur intégrée permet de définir des seuils de tolérance pour des jugements PASS/FAIL automatiques, facilitant l’intégration dans des lignes de test automatisées.
