Description
L’analyseur d’impédance – câble 2 m : IM7581-02 est un instrument de mesure haute fréquence conçu par Hioki pour tester avec rapidité et précision les composants électroniques. Couvrant une plage de fréquence de 100 kHz à 300 MHz, il est particulièrement adapté aux environnements de production à haut volume, notamment pour les perles de ferrite, inductances CMS et autres composants RF.
Avantages
- Temps de mesure ultra-rapide de 0,5 ms pour une productivité maximale
- Large plage de fréquence pour couvrir une grande variété de composants
- Haute précision avec une méthode de mesure RF I-V
- Fonction de comparaison intégrée pour les tests PASS/FAIL
- Format compact avec tête de mesure séparée pour une manipulation aisée
Caractéristiques principales
- Plage de fréquence : 100 kHz à 300 MHz
- Temps de mesure : 0,5 ms (temps analogique)
- Méthode de mesure : RF I-V
- Précision de base : ±0,72 % de la lecture
- Paramètres mesurables : Z, Y, θ, Rs, Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
- Plage de mesure :
- Impédance : 0,00 mΩ à 9,99999 GΩ
- Inductance : 0,0531 nH à 0,795 mH
- Capacité : 0,1061 pF à 15,9 µF
- Modes de mesure : LCR, analyseur (balayage en fréquence ou niveau), mesure continue
- Fonctions supplémentaires :
- Vérification de contact (DCR, Hi-Z reject, forme d’onde)
- Fonction de comparaison avec seuils personnalisables
- Accessoires inclus : câble de connexion 2 m (modèle -02)
Applications typiques
- Tests en ligne de production de composants CMS
- Contrôle qualité de bobines, condensateurs et filtres RF
- Caractérisation de composants haute fréquence en R&D
- Validation de conformité pour composants passifs
- Analyse de stabilité et de performance dans les circuits RF
Informations complémentaires
Le modèle IM7581-02 est livré sans tête de test, celle-ci devant être sélectionnée séparément selon l’application (ex. : IM9201 pour CMS). Il est compatible avec les logiciels Hioki pour l’analyse de données et l’automatisation des tests. Son format demi-rack et sa tête de mesure compacte facilitent l’intégration dans des bancs de test automatisés.
