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Assemblage de câbles multi-broches haute vitesse – jusqu’à 40 / 50 GHz : Série High Speed | Micable

Les assemblages de câbles multi-broches haute vitesse Micable sont conçus pour les applications de test de données à très haut débit jusqu’à 40 GHz et 50 GHz.

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Description

Les assemblages de câbles multi-broches haute vitesse Micable sont conçus pour les applications de test de données à très haut débit jusqu’à 40 GHz et 50 GHz. Optimisés pour les environnements de test automatisé, de validation semi-conducteur et de mesure haute fréquence, ces câbles offrent une excellente intégrité du signal, une répétabilité élevée et une cohérence parfaite entre voies.

Avantages :

  • Fréquence de fonctionnement jusqu’à 50 GHz, adaptée aux signaux ultra-rapides.
  • Faible VSWR (< 1,25:1) garantissant une excellente adaptation.
  • Faible atténuation pour préserver l’intégrité du signal.
  • Skew extrêmement faible (< 0,5 ps) entre voies.
  • Excellente cohérence d’amplitude sur l’ensemble des lignes.
  • Format multi-broches compact pour les systèmes à forte densité.

Caractéristiques principales :

  • Fréquences supportées : 40 GHz / 50 GHz
  • VSWR : < 1,25:1 à 40 GHz et 50 GHz
  • Atténuation du câble : < 4,24 dB/m à 40 GHz ; < 4,81 dB/m à 50 GHz
  • Skew (désalignement temporel) : < 0,5 ps
  • Cohérence d’amplitude : ±0,12 dB à 40 GHz ; ±0,15 dB à 50 GHz
  • Pas (pitch) : 4 mm
  • Configuration : Assemblages multi-broches haute densité

Applications typiques :

Ces assemblages de câbles sont destinés aux environnements où la qualité du signal et la synchronisation multi-voies sont critiques.

  • Tests de données haute vitesse
  • Conception et validation de semi-conducteurs
  • Systèmes de test automatisé (ATE)
  • Mesures RF et hyperfréquences multi-canaux
  • Bancs de test de communication très haut débit

Pourquoi choisir les assemblages de câbles haute vitesse Micable :

Grâce à leur faible VSWR, leur skew ultra-réduit et leur excellente homogénéité d’amplitude, les assemblages de câbles multi-broches Micable permettent de fiabiliser les mesures et les tests à très haute fréquence. Ils constituent une solution de choix pour les architectures de test complexes nécessitant précision, répétabilité et performances jusqu’à 50 GHz.

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